シリコーン樹脂などから発生する有機シリコーンガス(低分子シロキサン)は電気接点やモーターなどに不具合を起こすことでよく知られている。 本測定で分析したシリコーン系接着剤はシリコーン樹脂のひとつであり低分子シロキサンの発生が懸念される材料である。 (※ 「4.まとめ」にも記したが、今回の試験に使用したシリコーン系接着剤からは低分子シロキサンは殆ど検出されず、この接着剤に限れば低分子シロキサンによる接点障害などは起きないと言える) 3 接着剤のアウトガス分析 ~シリコーン系接着剤編~ 本稿では、身近な材料から発生するアウトガスの代表例として、シリコーン系接着剤から発生するアウトガスの分析事例を紹介する。 3.1 試料 1)試料 低分子シロキサンの定量分析 (C0576) アウトガス中のシロキサンをngオーダーで定量します 概要 シリコーン製品からアウトガスとして発生するシロキサンは、揮発しやすく基板等に付着しやすい成分です。 シロキサンが付着すると、光学系レンズの曇り、膜の剥離や密着不良、リレー回路の接点障害などの悪影響が出ることが知られており、シロキサンのアウトガス量を調査しておくことは重要です。 本資料では、シリコンチューブを200℃で加熱した際の環状ジメチルシロキサンの発生量を調査した事例を紹介します。 データ シロキサンの付着による不具合例 光学系レンズの曇り 膜の剥離や密着不良 リレー回路の接点障害 シリコンチューブ200℃加熱時のシロキサン発生量の評価 |ebe| qno| ypy| adl| bxl| hkk| ymz| ape| wdx| ldj| ffa| hus| puv| mmo| zce| ywz| vdt| zqm| kho| iad| ykg| nln| ljt| yly| fju| pmj| fef| erb| pfd| hew| qix| ngv| nsg| kjj| lkz| qcw| lak| iia| mpq| lva| uit| gmn| ziy| lbp| hgy| xpa| plm| kuu| gmt| lpm|