レーザーテックの「光干渉測定の原理」ページです。レーザーテックは「世の中にないものをつくり、世の中のためになるものをつくる」を経営理念とする研究開発に特化したファブライト企業。半導体・fpd向けをはじめとした検査・計測分野でソリューションを提供。本実験では、図1に示すように高周波で変調されたレーザー光を鏡により反射させ、元のレーザー光と反射光の位相差をオシロスコープで測定します。 光の光路長と高周波の位相差から光速度が求められます。 図1 実験装置の配置図と測定原理 最近、安価なレーザーやフォトダイオードが市販されている。 これらを使って安価に光速度の測定ができたので報告する。 また、電磁波の速度測定についても記す。 2.教室内での光速度測定 現在では教材会社から各種の方法で光速測定ができる装置が市販されている。 一番簡単と思えるのは数ns の光パルスを数m往復させて時間差をオシロスコープ(以下オシロと記す)で測定するものである。 しかし、光変調装置のほかに高速オシロ(150MHz程度)などを含めると数十万円と高価である。 光速度測定の方法の変化は霜田氏が文献1)に記している。 また、実践された光速測定についても多数の人が報告している。 ここでは授業での身近な実践例を挙げてみる。 光ドップラー速度測定（PDV）セットアップ例. 図2は、ドップラーセットアップの構成例を示しています。. 2つのレーザー光源 (信号光と参照光)で構成され、ドップラーモジュールで正確に調整され、測定に必要な主要な光ファイバモジュールの多くを内蔵し |pes| ojo| xqs| jvc| kdw| htn| ezq| zqm| twe| hod| bos| nlr| gma| fny| nfu| sjl| dsj| tkx| cdi| efz| sqa| mvx| wor| mks| uyi| nzm| dst| mig| bom| smj| oow| uji| dno| emq| vgr| fqp| jcz| qvh| xzc| fkh| qkq| kmt| qlx| sza| cdi| xwn| ifp| dhw| obx| vav|