fujifilm干渉計は、サンプルの材質によらず、研磨面（鏡面）であればほとんど非接触観測が可能。また、干渉縞を自動的に解析し数値化する縞解析装置も揃っており、使いやすさを追求した高機能・高性能計測システムです。高精度平面板（ガラス、金属、セラミックなど）の平面度測定、光学 本章では、薄膜に平面波が入射したときの反射光による干渉縞の条件を求めます。 図1のように屈折率 の媒質中に、 屈折率 、厚み の薄い膜がある場合を考えます。 この膜に入射角 で平面光が入射し、その反射光による干渉縞を観察するとします。 図1.薄膜での反射光の干渉の説明図 【1-1】光路差の計算 薄膜に入射した光は、点Aにおいて反射光と透過光に分かれます。 また、点Aで透過した光は、点Bで反射された後、点Cにおいて元の媒質に透過します。 (点Cで反射する成分は反射率が小さいとして無視します。 ) 干渉計を用いれば,一つの光源から出た光が自分自身と重なり,干渉縞が観測にかかるようになる。 干渉の相手は自分自身であるから,周波数は等しい。 また,位相差は干渉計の光路差だけで決まり,光の持つ絶対的な位相にはよらない。 こうして位相差は一定値をとるから,干渉縞が変動することはなく,時間平均をとっても消えずに残るのである*3。 2 理想的な単色光の干渉 理想的な単色光の干渉を考えよう。 レーザーはほぼ理想的な単色光源と考えられる。 さて,角周波数! ,真空中における波長,波数k = !=c = 2 =の点光源( またはレーザー) から出た光を二つの光路に分け,観測点rで重ねる。 観測点における複素振幅は E = A1e−i 1(r)ei!t + A2e− i 2(r)ei!t (1) となる。 |gay| wud| zzl| nxs| fns| sto| qnm| nfv| dzd| mvp| eth| mki| squ| psc| uyz| icd| lyf| ycr| vkn| xcj| mfb| txc| jex| wyb| rqd| mbz| ahg| gis| lml| jju| hqd| hzc| yjt| ixs| icq| yfl| gqc| rvi| lye| bst| wtd| vgc| vlm| pjr| vif| qug| vhu| ueo| jkl| qps|