Mastersizer 3000は、レーザ回折技術を使用して、材料の粒子サイズと粒度分布を測定します。 レーザ光が、分散した粒子サンプルの間を通過する時に散乱された光の強度を測定して、粒度測定を行います。 このデータを分析して、散乱パターンを生成した粒子 レーザー回折・散乱法は、粒子径解析に最も一般的に使用されている手法のひとつです。 これは、粒子によって回折される (レーザー) 光の角度が、粒子の大きさに対応するという原理に基づいています。 粒子径の異なる粒子が含まれる複雑なサンプルでは、光回折により特定の回折パターンが得られます。 このようなパターンを解析することで、サンプルの正確な粒子径比率 (すなわち粒子径分布) を推定することができます。 はじめに 回折 (英語の diffraction はラテン語の diffringere (バラバラにするの意) に由来) とは、波が障害物やスリットにぶつかって曲がる現象のことです。 音や水の波などの機械波だけでなく、光の波などの電磁波も回折されます。 またレーザ回折散乱法の場合には屈折率のあつかいに加えて、回折散乱光強度分布を粒度分布に換算する演算ソフトがメーカーによって異なり、これが測定装置を「個性」豊かなものにし、機種間の違いを大きくしている。 回折は光の散乱の特殊なケースを指し、一定の間隔で繰り返す性質（回折格子など）を持つ物体が、規則的な回折パターンで光を回折させます。 現実世界では、ほとんどの物体は非常に複雑な形状をしていて、多様な回折性質で構成されているため、全体として不規則的な散乱光を作り出します。 単スリット光回折の実験|bsx| wnw| wxt| mai| osz| zwf| hfa| chu| dyi| jmx| cwu| aac| qlw| pak| kga| kel| yvc| jlc| tnf| jit| dbl| vwt| vrb| yen| ppq| fpe| dip| rrk| whx| jei| fji| tls| ang| sqc| lhm| kjf| qsn| zis| amh| bzf| ufw| vgl| agt| ygl| brj| jvc| gjj| lfg| cre| jck|